Zeszyty Naukowe - numer 2

>> Archiwum Zeszytów >> Spis treści numeru

Maciej KUPCZYK, Przemysław CIESZKOWSKI, Przemysław LIBUDA, Dawid JAKRZEWSKI

Opracowanie procedury przygotowania próbek do precyzyjnych pomiarów grubości cienkich powłok wytworzonych metodą łukowo-plazmową

W artykule scharakteryzowano zastosowaną w badaniach, a powszechnie stosowaną do powlekania ostrzy skrawających, metodę łukowo-plazmową, zaliczaną do metod PVD, ze szczególnym uwzględnieniem opisu procesu wyładowania łukowego w próżni. W dalszej części przedstawiono doświadczalnie sprawdzone przez autorów artykułu procedury przygotowania powierzchni próbek do precyzyjnych pomiarów grubości powłoki.

Strona 33

Recenzent: prof. dr hab. inż. Stanisław LEGUTKO

Pobierz artykuł (2055kB)

Informacje o autorach

dr hab. inż. Maciej KUPCZYK, prof. nadzw.

Instytut Technologii Mechanicznej, Politechniki Poznańskiej

ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań

tel. (061) 6652727, e-mail: maciej.kupczyk@put.poznan.pl

 

mgr inż. Przemysław CIESZKOWSKI

Instytut Technologii Mechanicznej, Politechniki Poznańskiej

ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań

tel. (061) 6652261

 

mgr inż. Przemysław LIBUDA

Instytut Technologii Mechanicznej, Politechniki Poznańskiej

ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań

tel. (061) 6652261

 

mgr inż. Dawid JAKRZEWSKI

VTT Techniki i Technologie Próżniowe

ul. Szczecińska 11, 75-122 Koszalin